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| 電鍍膜厚測試儀配備了半導體接收器適合測量薄到數(shù)NM的鍍層，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀,，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）,。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描（指定面積）,，如：硬盤鍍層,、細微的線,。有極高精度,，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計,，容許放入大面積的物件進行測量,。 電鍍膜厚測試儀可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置 戴爾計算機 分析應用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正,。根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品,。 樣品種類：鍍層、涂層,、薄膜,、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：CL17 – U92 電鍍膜厚測試儀的應用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度 2,、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析 3,、各鍍層的成分比例分析。 | ||||||||||||||||||||||||||
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