X-ray膜厚儀經(jīng)過20多年的努力, 現(xiàn)在的熒光X-射線鍍層厚度測量儀能夠準(zhǔn)確的測量微小面積的鍍層厚度。 已被全世界電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產(chǎn)品生產(chǎn)及相關(guān)廠商廣泛使用和認(rèn)可。
X-ray膜厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
X-ray膜厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域:
1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
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